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电子测试 JST
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被引量 44,387
影响因子(2023) 0.476

《电子测试》创刊于1987年，见证了中国电子测试测量业的发展历程。如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的平台，开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的核心使命。同时，本刊也希望成为社会各界有识之士进行学术交流平台，共同发展，携手共进！

  • 主管单位： 北京市科学技术研究院
  • 主办单位： 北京市科学技术研究院
  • 出版地区： 北京
  • 出版周期： 双月刊
  • 别名： Electronic Test
  • 国内统一连续出版物号： CN 11-3927/TN
  • 国际标准连续出版物号： ISSN 1000-8519
  • 创刊时间： 1987年
  • 曾用名： 电子测试（新电子）
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封面
2024年02期
共：23篇

      不详

    • 刘越余维幸涛武呈龙

      1-5

    • 陈琦黄敏宋元好吕秀红冀建伟

      6-9

    • 王洋洋李瑞刘力

      10-12

    • 徐涛高燃耿蟒河

      13-18

    • 袁峰叶煜魏星刁屹杨晓庆丁琳李杨

      19-22

    • 侯隆斌李青峰

      23-27

    • 叶媛媛李燕樊鹏波张至愚闫军莹尹秀廷张明华

      28-32
    • 33-37

    • 谢黎史丰硕王雨晴康晓管安红妍潘文婷罗光荣于龙飞

      38-42

    • 麦麦提艾力·图尔荪冯俐

      43-49

    • 杨赤如赵晨竹冀兴军孙江超

      50-54

    • 李岸华

      55-58

    • 杨广彭杰

      59-63

    • 魏家兴王修芳程亚娟张峥朱振东曹峰

      64-66

    • 郭帅帅赵晨王作恒

      67-71

    • 张佳豪冯俐

      72-77

    • 胡荣璞

      78-81

    • 韩翠颖潘帅杨文玲王芸

      82-86

    • 陈炜李鑫王屾

      87-91

    • F0003-F0003
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2024年02期

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