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罗马尼亚
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JOURNAL OF OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS 中科院4区 JCR:Q4 SCIE EI
发文量 6,148
被引量 42,261

  • 主办单位： NATL INST OPTOELECTRONICS
  • 出版地区： BUCHAREST
  • 出版周期： 月刊
  • 别名： J. Optoelectron. Adv. Mater.;J OPTOELECTRON ADV M
  • 国际标准连续出版物号/电子版： ISSN 1454-4164 / EISSN 1841-7132
  • 创刊时间： 1999年
热门主题：

Chalcogenide GlassesThin FilmsOptical PropertiesMagnetic PropertiesOptical Band GapScanning Electron MicroscopyElectrical PropertiesX-Ray DiffractionAtomic Force MicroscopyRefractive IndexChalcogenide GlassPulsed Laser DepositionTransmission Electron MicroscopyOptical AbsorptionThin FilmTemperature DependenceAmorphous FilmsDielectric PropertiesRoom TemperatureElectrical and Optical Properties

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封面
2025年9期
共：11篇

    • Serbetci, HusamettinInce, EgeNavruz, Isa

      413-419
    • 420-426

    • Kumar, K. SanthoshMadhan, M. Ganesh

      427-438
    • 439-445

    • Kumari, Meet

      446-456

    • Zhao, FeiZhang, YannanGuo, Yixin

      457-462

    • Xiong, S.Pan, Y.Chen, F.

      463-474
    • 475-482

    • Herissi, L.Hadjeris, L.Aida, M. S.Attaf, N.Siouane, S.

      483-490

    • Nicolae, S.Dandocsi, A. M.Ilie, A.Radu, C.

      491-510

    • Chilibon, IrinelaVasiliu, Ileana Cristina

      511-517
2025年9期

2025年9期

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