- 首页
- 产品服务
- 知识脉络
- 期刊大全
- 期刊评价报告
- 充值
- 会员
- 职称材料
搜期刊
刊名
文献信息
- 任意字段
- 主题词
- 篇关摘
- 篇名
- 关键词
- 摘要
- 作者
- 第一作者
- 作者单位
- 刊名
- 中图分类号
- 学科分类号
- DOI
- 基金
投稿预审
Journal of Scanning Probe Microscopy
- 主办单位： American Scientific Publishers
- 出版周期： 半年刊
- 国际标准连续出版物号/电子版： ISSN 1557-7937 / EISSN 1557-7945
- 创刊时间： 2006年
热门主题：
Atomic Force MicroscopyScanning Tunneling MicroscopyTransmission Electron MicroscopyScanning Tunneling MicroscopeAtomic Force MicroscopeDynamic Atomic Force MicroscopePolyethylene Glycol DiamineRelative Radius of CurvatureBismuth Ferrite Thin FilmEndemic and Rare PlantCrystallization of Thin FilmsAtomic Force Acoustic MicroscopySingle Atoms and MoleculesNanoparticles DistributionNano-sized SiC ParticlesTapping Mode Atomic Force MicroscopyPectin PolysaccharidePiezoelectric Force MicroscopyNormal Contact StiffnessMagnetoelectric Coefficient
期刊信息
- 主办单位：American Scientific Publishers
- 地 址： --
期刊简介