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The European Physical Journal - Applied Physics
中科院4区 JCR:Q4 SCIE EI CA JST
EPJ AP an international journal devoted to the promotion of the recent progresses in all fields of applied physics. The articles published in EPJ AP span the whole spectrum of applied physics research.
- 主办单位： EDP SCIENCES S A
- 出版地区： LES ULIS
- 出版周期： 连续出版
- 别名： EUR PHYS J-APPL PHYS;Eur. Phys. J.-Appl. Phys;European Physical Journal: Applied Physics;EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL-APPLIED PHYSICS;European Physical Journal. Applied Physics;欧洲物理杂志：应用物理
- 国际标准连续出版物号/电子版： ISSN 1286-0042 / EISSN 1286-0050
- 创刊时间： 1998年
- 曾用名： Microscopy, microanalysis, microstructures,Journal de physique. III
热门主题：
Thin FilmsOptical PropertiesTransmission Electron MicroscopyMagnetic FieldDielectric Barrier DischargeAtomic Force MicroscopyElectric FieldFinite Element MethodOptical and Electrical PropertiesRoom TemperatureX-Ray DiffractionScanning Electron MicroscopyElectrical PropertiesAtmospheric PressureScanning Electron MicroscopeTemperature DependenceOptical Band GapMagnetic PropertiesPorous SiliconExperimental Data
期刊信息
- 主办单位：EDP SCIENCES S A
- 地 址： LES ULIS
期刊简介
EPJ AP an international journal devoted to the promotion of the recent progresses in all fields of applied physics. The articles published in EPJ AP span the whole spectrum of applied physics research.